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菲希爾XULM240 FISCHER代理核心測量性能

1. 菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度

• 可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）

• 標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%

• 重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm

2. 微區測量能力

• 微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構

• 比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率

3. 多層與合金分析

• 支持單層、雙層（含合金層）、三層鍍層測量（如Cr/Ni/Cu/ABS）

• 通過基本參數法（FP法）無需標準片即可分析固態/液態樣品成分