DualScope FMP20/FMP40中文顯示界面的詳細資料：

DualScope FMP20/FMP40中文顯示界面

DualScope FMP20/FMP40中文顯示界面
雙功能DualScope FMP20/FMP40該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數的擴展內存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

FMP10和 FMP20型儀器的功能

• 可以配合所有基于磁感應法和渦流法的探頭使用 • 自動識別探頭

• 自動識別底材 (FMP20)

• 儀器操作界面友好

• USB接口可以連接計算機

• 240x160像素高對比度大尺寸顯示屏

• 開機后即可測量

• 插入探頭即可測量

• 測量完成后聲音提示

• 通過簡單的零位修正就能適應底材形狀(歸一化)

• 校準簡便(使用一到兩片箔片)

• 針對罕見材料或者形狀復雜的產品設置主校準模式   (需配合主校準標準片使用)

• 可以調節儀器自動關機時間和連續使用時間

• 儀器狀態顯示(例如：電量低時出現的警告信息)

• 鍵盤鎖/功能限制模式

• 滑蓋保護鍵盤

• 多語言顯示

• 測量結果的單位可在μm和mils之間切換

應用程式存儲

• 可以儲存一個應用程式，包括校準信息。

統計和計算

• 顯示統計數據，例如：平均值、標準偏差、  zui大和zui小值、讀數范圍。

測量方式

• 單次測量 • 用“連續測量”模式測量可以對樣品表面進行  連續掃描。

FMP30和 FMP40型儀器的功能 (相對于FMP10 和FMP20型儀器增加的功能)

儀器功能

• 自動識別底材 (FMP40).

• 外部觸發測量  （例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內壁）

• 使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應法）

• USB接口可以連接計算機和打印機

• 電池供電和交流電源(可選件)供電

應用程式存儲

• 可以儲存100個應用程式，包括校準信息。

• 可以儲存 20,000 個讀數

• 可以儲存 4,000 個數據組

• 數據組包含日期和時間信息

• 糾正已儲存的讀數

• 應用程式關聯功能：多個應用程式能使用相同的  歸一化/校準信息

• 通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱 （可選件：MP-Name軟件）

統計和計算

• 數據組統計值和所有數據統計值

• 測量數據直方圖顯示

• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

• 測量結果超出公差范圍時儀器發出視覺和聲音警告

測量方式

• 連續測量模式下，測量數據可在上下限公差范圍內  模擬顯示

• 可使用矩陣測量模式進行大量測量

• 取平均值：只儲存若干個測量數據的平均值

• 區域測量：提起探頭后才儲存測量過程中的平均值

• 自動測量：無需提起探頭，儀器自動獲得數值

• 離奇值控制：儀器可自動排除錯誤的測量值

便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP40

雙功能FMP40 |該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP40型號的附加功能包括多達20,000個讀數的擴展內存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍牙或COM附加可用于默認USB接口
測量應用記憶體： -
•多達100個測量應用的應用存儲器，包括 校準
•內存多達20,000張讀數
•將讀數分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應用的通用歸一化/校準
•通過標準測試測量驗證校正校準、

該手持設備用于測量所有金屬上的涂層厚度，即非破壞性。 該儀器具有許多功能，包括自動基板材料識別和圖形測量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項和相關過程能力指標cp和cpk的計算。 如果超過公差設定限制，則可以給出聲音和視覺警告。

該器件配有多種探頭。 它還具有FISCHER DataCenter軟件，便于傳輸和歸檔測量數據。 它可以打印報告并提供全面的統計和圖形評估。 該設備適用于汽車工業，油漆制造加工和實驗室等行業。 它也可以用于測試機構和航空業。